МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РФ РЫБИНСКАЯ ГОСУДАРСТВЕННАЯ АВИАЦИОННАЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКАЯ АКАДЕМИЯ им. СОЛОВЬЕВА КАФЕДРА ФИЗИКИ УТВЕРЖДЕНО на заседании методического семинара кафедры физики «»2003 г. Пиралишвили Ш.А. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 36 ОПРЕДЕЛЕНИЕ КАЧЕСТВА ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ С ПОМОЩЬЮ МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРА Нормоконтроль: Автор: к.ф-м.н., доцент Фузеева А. Шувалов В.В. Рецензент: Рыбинск, 2003 УКАЗАНИЯ ПО ТЕХНИКЕ БЕЗОПАСНОСТИ Прибор МИИ-4 имеет подключение к электрической цепи через понижающий трансформатор 220/6 В.
Не допускайте перегрева осветительного узла прибора. При работе соблюдайте требования инструкции по технике безопасности №4. Не включайте прибор, пока не ознакомитесь с его устройством. ЦЕЛЬ РАБОТЫ: изучение принципа действия прибора – микроинтерферометра МИИ-4, проведение измерений и определение на их основе качества обработки поверхности.
Yamaha qs300 опис скачать руководство пользователя нокиа 5228 торент автомагнитола кенвуд. Микроинтерферометр «МИИ-4. Микроинтерферометр «МИИ-4.
ПРИБОРЫ И ОБОРУДОВАНИЕ: микроинтерферометр типа МИИ-4, понижающий трансформатор, исследуемый образец. КРАТКИЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ В основе принципа действия прибора лежит явление интерференции света.
Инструкция Документация Микроинтерферометр Мии 43
Под интерференцией понимается явление стационарного (т.е. Независящего от времени), перераспределения энергии в световом поле двух когерентных источников света. Интерференция – явление, характерное для всех волновых процессов и наблюдение интерференции у световых пучков наглядно свидетельствует о волновой природе света. Теория и опыт неопровержимо свидетельствуют, что свет представляет собой электромагнитные волны диапазона 0,40×10 -6 – 0,76×10 -6 метров. Электромагнитные волны – поперечные волны, характеризуются колебанием двух векторов: вектора напряженности электрического поля и вектора магнитной индукции.
Колебания электрической и магнитной составляющих поля световой волны происходят в одинаковых фазах во взаимноперпендикулярных плоскостях. Как показывает исследование, векторы, и единичный вектор направления, вдоль которого происходит распространение волны, образуют правую тройку векторов. Если колебания вектора и вектора соответственно происходят в фиксированных плоскостях, такая волна называется плоскополяризованной. Инструкция как делать воздушного змея. Если же при этом колебания волны заключены в достаточно узком диапазоне частот, то волну называют монохроматической. Простейшим типом электромагнитной волны является монохроматическая плоская волна.
Драйвер для монитора samsung syncmaster 943n. Форум Тем Ответов Последнее сообщение Вопросы и проблемы, связанные с установкой Windows 8 Модераторы:, 18 135 15 апреля 2014 в 07:42 Тема: Автор: Обсуждаем вопросы по настройке Windows 8 и ее оптимизации, решаем проблемы, избавляемся от багов общими усилиями.
Такая волна однозначно определяется заданием двух векторов – вектора и вектора:. Как показывает опыт, физиологическое, фотохимическое, фотоэлектрическое и другие действия света называются колебаниями электрической составляющей поля волны, в связи с чем вводится понятие светового вектора, под которым понимается вектор электрической напряженности Е.
Инструкция Документация Микроинтерферометр Мии 4k
Статус документа: Действует Дата начала действия: 01 фев. Количество страниц: 17 стр.
Когда и где опубликован: Роспотребнадзор, 2011 год Разработан:. Трижды ордена Ленина Ленинградское оптико-механическое объединение имени В.И.
Ленина Утвержден:. ВНИИМ им. Менделеева (D. Mendeleyev VNIIM) Содержание: 1. Операции и средства поверки 2. Условия поверки и подготовка к ней 3.
Проведение поверки 4. Оформление результатов поверки Приложение. Форма записи и обработки результатов наблюдений при определении оценки среднего квадратического отклонения Ссылки в документе:.
Разделы классификатора:. Наименование операции номер пункта настоящих методических указаний Средства поверки и их нормативно-технические характеристики Обязательность проведения операции При выпуске из производства при выпуске из ремонта при экспл. И хранении Внешний осмотр - Да Нет Нет Опробование: Проверка взаимодействия частей микроинтерферометра - Да Да Да Проверка появления интерференционных полос в момент контакта интерференционной пластинки с испытуемой поверхностью Меры длины концевые плоскопараллельные ГОСТ 9038-83 толщиной 8 - 10 мм 1-го или 2-го кл. (3) Убедитесь, что искривление интерференционных полос в плоскости сетки винтового окулярного микрометра не превышает 0,2 расстояния между двумя соседними интерференционными полосами.
Отклонение случайной составляющей погрешности измерений определите следующим образом: Установите в гнездо механизма качания интерференционную пластинку № 1 с коэффициентом отражения 0,45. Поместите на предметный столик образцовую меру (действительное значение высоты уступу в локальной зоне должно быть установлено органами государственной метрологической службы. Произведите фокусировку микроинтерферометра на локальную зону образцовой мери (номинальное значение зоны - 1 мкм) и выполните 15 наблюдении высоты уступа согласно методике, указанной в техническом описании и инструкции по эксплуатации. Для исключения мертвого хода микрометрического винта винтового окулярного микрометра подводите нить перекрестия к интерференционным полосам с одной стороны. Результаты измерений представьте в виде таблицы (см. По результатам измерений вычислите среднее арифметическое значение высоты уступа по формуле. (5) Убедитесь, что S не превышает 25 нм.
Для определения основной погрешности микроинтерферометра из ряда значений Н i(i = 15) выберите минимальное (Н i min) и максимальное (Н i max). Наибольшее значение основной погрешности определите как наибольшую по абсолютному значению разность между действительным значением высоты уступа и значением Н i min и Н i max Убедитесь, что основная погрешность не превышает 60 нм. Аналогично произведите 15 измерений высоты уступа в локальной зоне с номинальным значением высоты 0,130 мкм и определите среднее квадратическое отклонение случайной составляющей погрешности измерений и основную погрешность. Убедитесь, что в этом случае основная погрешность микроинтерферометра не превышает 15 нм, при этом среднее квадратическое отклонение случайной составляющей погрешности измерений не более 6 нм.
Результаты поверки микроинтерферометра при выпуске из производства заносят в его паспорт. На микроинтерферометры, признанные годными при поверке органами государственной метрологической службы, выдаются свидетельства установленной формы. Результаты ведомственной поверки заносят в документ, форма которого согласована с органами государственного надзора. Микроинтерферометры, не удовлетворяющие требованиям настоящих методических указаний, к выпуску и использованию не допускаются. Отзыв о компании поставщике образец.